Halbleiterprüfsysteme
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LDBI-Laseralterung Halbleiterprüfsysteme Mehrkanalprüfsystem
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:Laseralterung Halbleiterprüfsysteme, LDBI-Halbleiterprüfsysteme, Multi-Channel-Stromgeräte-Analysator
LDBI-Laseralterung Halbleiterprüfsysteme Mehrkanalprüfsystem
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingEs hat ei... Mehr sehen
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1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100 Halbleiterprüfsysteme
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
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1200V/100A Halbleiterparameter-Analysator SPA6100 Halbleiterprüfsysteme
Der SPA6100 Halbleiterparameter-Analysator bietet Vorteile wie hohe Präzision, breiten Messbereich, schnelle Flexibilität und starke Kompatibilität.Dieses Produkt unterstützt die gleichzeitige Prüfung von Gleichstrom-Spannung (I... Mehr sehen
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10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfung PMST für Mosfet BJT IGBT SiC GaN Halbleiter
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:10 kV/6000A Leistungsgeräte-Analysator, Analysatorstatische Prüfung PMST, BJT IGBT-Leistungsgeräte-Analysator
10kV/6000A Leistungsanalysator Statikprüfung PMST für MOSFET-BJT-IGBT- und SiC-GaN-Halbleiter
Das PMST Static Parameter Test System für Leistungseinrichtungen integriert mehrere Mess- und Analysefunktionen, die eine präzise Prüfung statischer Parameter für verschiedene Leistungseinrichtungen (... Mehr sehen
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10Hz-1MHz Halbleitergerät C-V-Prüfsystem
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:1MHz Halbleiter-Leistungsgerät, 10Hz Halbleiter-Leistungseinrichtung, C-V Halbleitercharakterisierungssystem
10Hz-1MHz Halbleitergerät C-V-Prüfsystem
Die Kapazität-Spannungsmessung (C-V) wird häufig zur Charakterisierung von Halbleiterparametern, insbesondere in MOS-Kondensatoren (MOS-CAPs) und MOSFET-Strukturen, verwendet.Die Kapazität einer Metalloxid-Halbleiterstruktur (MOS) ist eine Funktion der angele... Mehr sehen
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1000A Stromsensorprüfsystem CTMS Halbleiterprüfgerät
Preis: Negotiable
MOQ: 1 unit
Lieferzeit: 2-8 weeks
Marke: PRECISE INSTRUMENT
Markieren:1000A Stromsensorprüfsystem, CTMS-Halbleiterprüfausrüstung, 1000A CTMS Halbleiterprüfung
1000A Stromsensorprüfsystem CTMS Halbleiterprüfgerät
CTMS-Prüfsystem integriert eine Vielzahl von Mess- und Analysefunktionen und kann die statischen und dynamischen Parameter verschiedener Stromsensoren (Hall-Stromsensoren,Rogowski-Spulen, Pilsner-Spulen usw.), wobei der Strom einer einzigen Hochst... Mehr sehen
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